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AI 数据中心为什么开始关注碳化硅模块?SST 与 800V 直流供电选型要点

作者:芯火元科技  来源:本站  发布时间:2026-08-20  浏览:8

AI 数据中心开始关注碳化硅模块,直接原因是供电功率继续上升,传统多级 AC 转换带来的损耗、体积和散热压力越来越难处理。SiC 模块可用于固态变压器的整流、隔离 DC/DC 和逆变级,但不能只按“数据中心专用模块”选型,必须先确定它在供电架构中的位置。

固态变压器(SST)是用电力电子变换器和高频隔离变压器完成电压变换、隔离与控制的系统。它可以把中压交流直接转换为高压直流,也可以根据系统需要输出交流。

为什么 2026 年这条路线升温

2026 年 6 月,东芝公布面向数据中心高频逆变器的 1200V 级 SiC 功率模块技术。其仿真结果显示,在 60kHz 工况下,改进器件与模块设计后,逆变器总损耗较对比结构约降低 30%。这组数据是特定设计和仿真条件下的结果,不能直接套用到其他模块或整机。

同月,TI 公开 50kW SiC 模块化 SST 参考设计,其中 DC/AC 级工作在 10kHz,双有源桥 DAB 隔离级工作在 100kHz。参考设计说明了一个现实问题:SST 不只是“把模块耐压做高”,还要同时处理高频磁性器件、隔离通信、驱动供电和级联均压。

Microchip 的 SST 方案则把视角放到多兆瓦系统。其资料提到,典型 13.8kV 输入 SST 可做到 2 至 2.5MW,并可能使用数百个 SiC 功率模块;架构也在从 1200V 器件向 3.3kV 模块演进,以减少器件数量和系统层级。

SiC 模块在 SST 中放在哪里

功率级主要任务模块选型重点
中压 AC/DC 前端整流、功率因数校正、直流母线建立耐压、串联均压、局部放电、短路保护
隔离 DC/DC高频隔离与电压变换,常见 DAB 等拓扑开关损耗、反向导通、死区、变压器漏感
高压 DC 输出级稳压、双向能量流、负载动态响应电流纹波、控制带宽、母线电容、保护协调
UPS 或逆变级直流转交流或关键负载供电60kHz 等高频工况下的损耗、EMI 和热设计

1200V、1700V 和 3.3kV 怎么选

电压等级不是越高越好。1200V 模块供应成熟,适合由多个子模块级联的架构;1700V 可为较高直流母线留出更多电压余量;3.3kV 模块能减少串联器件或子模块数量,但对驱动隔离、局部放电、爬电距离和测试平台提出更高要求。

工程上先确认以下数据:

  1. 中压输入、电网波动范围和故障过电压。

  2. 每个子模块的直流母线电压与最大纹波。

  3. 目标开关频率,以及磁性器件希望缩小到什么程度。

  4. 正常、过载、旁路和故障穿越时的电流应力。

  5. 模块到散热器的完整热路径,而不是只看数据手册中的结壳热阻。

  6. 隔离电源、驱动器、采样和通信需要承受的共模瞬变。

高频带来的代价

SiC 模块可以提高开关频率,但开关速度过快会放大母排寄生电感的影响。关断过压、VGS 振铃、误导通和传导 EMI 往往一起出现。模块杂散电感低,只解决了模块内部的一部分问题;外部母排、直流母线电容位置、驱动回路和接地仍需重新布局。

建议先做双脉冲测试,再进入子模块和整机测试。双脉冲阶段记录 VDS、VGS、ID、开通和关断能量;子模块阶段补充 DAB 换流、变压器漏感和死区测试;整机阶段再看多模块均压、动态负载、EMI 和热循环。

选型步骤

  1. 画出 SST 功率链,标明模块所在功率级。

  2. 按最坏母线电压和尖峰确定耐压等级,不用标称母线电压直接选模块。

  3. 在目标频率和结温下计算导通、开关与反向导通损耗。

  4. 检查封装杂感、母排结构、冷却方式和机械安装。

  5. 同步选择隔离驱动、驱动电源、保护与电流采样。

  6. 从单模块、子模块到级联系统分层验证。

相关产品与选型方向

芯火元现有产品可从 62mm 碳化硅半桥模块ED3 碳化硅半桥模块碳化硅 MOSFET隔离驱动芯片SiC/IGBT 驱动核 几个方向组合评估。用于中压 SST 时,还应确认目标电压等级是否在现有产品范围内,不能用低压模块简单替代中压方案。

常见问题

问:AI 服务器电源一定要用碳化硅模块吗?
答:不一定。服务器机内的较小功率电源可能更适合 SiC 分立器件或 GaN。SiC 模块更适合 SST、UPS、高压 DC 配电和较大功率变换级。

问:SST 使用 1200V 模块还是 3.3kV 模块?
答:取决于输入电压、级联层数、子模块功率和绝缘设计。1200V 模块便于采用成熟器件和多级架构,3.3kV 模块有机会减少数量,但系统验证难度更高。

问:提高开关频率就能缩小整机吗?
答:只能说有机会。磁性器件可以缩小,但模块损耗、驱动功耗、EMI、绝缘和冷却可能成为新的限制条件。

问:做 SST 样机最先测什么?
答:先在单模块和单功率级上做双脉冲、驱动保护与热测试,再做 DAB 或 AFE 子模块测试。级联后还要测均压、同步、通信隔离和故障传播。

咨询引导

武汉市芯火元科技有限公司可围绕碳化硅模块、SiC MOSFET、隔离驱动芯片和驱动核提供选型与样品支持。数据中心 SST 项目建议同时提供输入电压、直流母线、单模块功率、拓扑、目标频率和冷却条件,便于先缩小产品范围。

参考资料:东芝数据中心 SiC 模块技术TI 50kW SiC SST 参考设计Microchip AI 数据中心 SST 方案